|
VOLUME 67 (1998) | ISSUE 6 |
PAGE 387
|
Точный метод определения угла преднаклона в тонких пленках нематических жидких кристаллов
Яблонский С.В., Михайлов А.С., Палто С.П., Юдин С.Г., Яковлев С.В., Дюран Г.
PACS: 42.79.Kr, 61.30.Gd
![Разработан новый метод измерения углов преднаклона в пространственно однородных и неоднородных тонких пленках нематических жидких кристаллов. В данном методе используется модуляционная эллипсометрия, основанная на зондировании приграничного слоя экспоненциально затухающей световой волной. С помощью внешнего периодического поля возбуждаются колебания директора жидкого кристалла, индуцированные флексоэлектрическим моментом сил. Периодическое изменение эллиптичности светового пучка, отраженного от границы раздела, детектируется как на первой, так и на второй гармониках возбуждающего электрического поля. Знание этих двух фурье-компонент электрооптического отклика позволяет вычислить как угол преднаклона директора <i>во, </i>так и его динамическое отклонение <i>δθ. </i>Измеренные этим методом углы <i>во </i>и <i>δθ </i>на поверхности электрода (ΙΤΟ) и на поверхности сегне-тоэлектрической пленки (сополимер винилиден фторида и трифторэтилена), ориентированной в коронном разряде, равнялись <i>во — </i>5.1°, δθ — 0.5° и <i>во = </i>89°, δθ = 0.06° соответственно.](/ps/1000/article_15202_800_head.png)
Разработан новый метод измерения углов преднаклона в пространственно однородных и неоднородных тонких пленках нематических жидких кристаллов. В данном методе используется модуляционная эллипсометрия, основанная на зондировании приграничного слоя экспоненциально затухающей световой волной. С помощью внешнего периодического поля возбуждаются колебания директора жидкого кристалла, индуцированные флексоэлектрическим моментом сил. Периодическое изменение эллиптичности светового пучка, отраженного от границы раздела, детектируется как на первой, так и на второй гармониках возбуждающего электрического поля. Знание этих двух фурье-компонент электрооптического отклика позволяет вычислить как угол преднаклона директора во, так и его динамическое отклонение δθ. Измеренные этим методом углы во и δθ на поверхности электрода (ΙΤΟ) и на поверхности сегне-тоэлектрической пленки (сополимер винилиден фторида и трифторэтилена), ориентированной в коронном разряде, равнялись во — 5.1°, δθ — 0.5° и во = 89°, δθ = 0.06° соответственно.
|
|