Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 81-92
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 61-80
      Volume 80
      Volume 79
      Volume 78
      Volume 77
      Volume 76
      Volume 75
      Volume 74
      Volume 73
      Volume 72
      Volume 71
      Volume 70
      Volume 69
      Volume 68
      Volume 67
      Volume 66
      Volume 65
      Volume 64
      Volume 63
      Volume 62
      Volume 61
Search
VOLUME 67 (1998) | ISSUE 6 | PAGE 387
Точный метод определения угла преднаклона в тонких пленках нематических жидких кристаллов
PACS: 42.79.Kr, 61.30.Gd
Разработан новый метод измерения углов преднаклона в пространственно однородных и неоднородных тонких пленках нематических жидких кристаллов. В данном методе используется модуляционная эллипсометрия, основанная на зондировании приграничного слоя экспоненциально затухающей световой волной. С помощью внешнего периодического поля возбуждаются колебания директора жидкого кристалла, индуцированные флексоэлектрическим моментом сил. Периодическое изменение эллиптичности светового пучка, отраженного от границы раздела, детектируется как на первой, так и на второй гармониках возбуждающего электрического поля. Знание этих двух фурье-компонент электрооптического отклика позволяет вычислить как угол преднаклона директора во, так и его динамическое отклонение δθ. Измеренные этим методом углы во и δθ на поверхности электрода (ΙΤΟ) и на поверхности сегне-тоэлектрической пленки (сополимер винилиден фторида и трифторэтилена), ориентированной в коронном разряде, равнялись во — 5.1°, δθ — 0.5° и во = 89°, δθ = 0.06° соответственно.