Лазерная фотоионная фотоселективная микроскопия с разрешением 5 нм
Секацкий С.К., Серебряков Д.В., Летохов В.С.
PACS: 61.16.Fk, 61.46.+w, 78.50.-w
Достигнута спектральная селективность в методе полевой ионной микроскопии с пространственным разрешением около 5 нм и времяпролетным определением масс фотоионов. При облучении острий, изготовленных из красных светофильтров излучением лазера на парах меди, зарегистрированы находящиеся в прозрачной стеклянной матрице светопоглощающие CdS^Sei-a. нанокристаллиты, проявляющиеся на фотоионных изображениях в виде ярких пятен на темном фоне.