Измерение возмущения атомных уровней под действием интенсивного света, используя процесс резонансной многофотонной ионизации
Бакош И., Киш А., Сабо Л.,, Тендлер М.
Предлагается новый метод измерения штарковского сдвига высоких атомных уровней в сильном световом поле, основанный на наблюдении процесса резонансной многофотонной ионизации атома, Исследован процесс многофотонной ионизации 2 3S метастабильного состояния атома гелия, получены величины штарковского сдвига для ряда уровней.