JETP Letters: issues online

Исследована зависимость электронной проводимости тонких {5-150 нм) монокристаллических (100) пленок тугоплавких металлов от толщины при различных температурах, от 4.2 К вплоть до комнатной. Обнаружены области корневой, квазилинейной и квадратичной зависимостей. Квазилинейная размерная зависимость объясняется влиянием квантовых эффектов на поперечное движение электронов в случае доминирующего рассеяния электронов на поверхностях пленок. При макроскопической толщине пленок 30-50 нм, существенно превышающей фермиевскую длину волны электрона, квантовые поправки к электронной проводимости достигают значений порядка 50 %. Это является следствием квантового размерного эффекта для скользящих электронов, приводящего к аномалии в рассеянии электронов на поверхностях пленки. Область квадратичной размерной зависимости соответствует квантовому пределу, а корневая классическому. Объяснение эффекта проведено с использованием квазиклассической модели, учитывающей дифракционные угловые ограничения для скользящих электронов, в которой присутствуют два параметра -эффективный угол для малоугловых электронов а* и параметр 7, равный отношению этого угла к дифракционному. Наблюдаемый эффект проявляется при параметрах а* <С 1, 7 ~ 1, и отличается от "обычного" квантового размерного эффекта. PACS: 73.40.-c