Идентификация триплетного основного состояния и фотоиндуцированной инверсной населенности для дивакансии Si-C в карбиде кремния методом ЭПР
П. Г. Баранов, И. В. Ильин, Е. Н. Мохов, М. В. Музафарова, С. Б. Орлинский*, Я. Шмидт*2)
Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН, 194021 С.-Петербург, Россия
*Huygens Laboratory, Department of Physics, Leiden University, Leiden, The Netherlands
PACS: 61.72.Ji, 61.72.Bb, 76.30.-v
Abstract
Показано, что собственные дефекты, ответственные за
полуизолирующие свойства SiC, представляют собой дивакансии Si-C в
нейтральном состоянии (V Si -V C)0,
имеющие триплетное основное состояние. Установлена схема
энергетических уровней и механизм создания фотоиндуцированной
инверсной населенности триплетных подуровней основного состояния
дивакансии, и сделан вывод о наличии синглетного возбужденного
уровня, через который и осуществляется спиновая поляризация, что
открывает возможность регистрации магнитного резонанса на
одиночных дивакансиях.