JETP Letters: issues online

Методом малоуглового рассеяния поляризованных нейтронов исследована магнитная спиральная структура образца Y/Dy в диапазоне температур от 30 до 190 K. Образец представляет собой последовательность слоев Y_50 nm[Dy_4.3nm/Y_2.8nm]₃₅₀/Y_234nm/Nb_200nmAl₂O₃ (подложка), выращенную как монокристалл с осью [001] гексагональной решетки, перпендикулярной плоскости слоев. Проведенные эксперименты демонстрируют появление магнитного пика ниже T_N = 165.4 K, связанного с геликоидальной фазой, причем длина когерентности геликоида оказывается больше толщины слоя Y/Dy. Использование поляризованных нейтронов позволяет разделить поляризационно-зависящий и поляризационно-независящий вклады в магнитное рассеяние. Поляризационно-независящая часть магнитного нейтронного сечения пропорциональна квадрату намагниченности $\langle S_Z \rangle^2$ , в то время как поляризационно-зависящая часть пропорциональна средней киральности системы $\langle C \rangle = \langle [S_1\times S_2]\rangle$ . Установлены критические индексы для средней киральности β_C = 1.02(1) и намагниченности β = 0.39(1). Критический индекс намагниченности β для Dy/Y совпадает с индексом, получаемым для объемных образцов Dy. Разница β_C - 2β = 0.24(2) показывает, что киральность может являться компонентой параметра порядка, не зависимой от намагниченности. Данный эксперимент подтверждает результаты, (PRB 64(2001) 100402(R)), полученные для критической киральности в Ho.