Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 61-80
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 81-92
      Volume 92
      Volume 91
      Volume 90
      Volume 89
      Volume 88
      Volume 87
      Volume 86
      Volume 85
      Volume 84
      Volume 83
      Volume 82
      Volume 81
Search
VOLUME 84 (2006) | ISSUE 1 | PAGE 29
Пробой КЭХ в регулярно неоднородных 2D электронных системах
Abstract
Обсуждается механизм пробоя для ВАХ системы целочисленных холловских каналов в 2D образце с регулярно неоднородным распределением 2D электронной плотности. Показано, что появление на "берегах" таких полосок внешнего потенциала V ведет к альтернативе: с ростом V ширина полоски сжимается вплоть до нуля, либо она растет геометрически, но "портится качественно". В обоих случаях со своими (разными) порогами целочисленные полоски теряют свойства, присущие им в режиме квантового эффекта Холла (КЭХ). Эти пороги ассоциируются в работе с явлением несимметричного пробоя КЭХ для системы целочисленных каналов.