Пробой КЭХ в регулярно неоднородных 2D электронных системах
В. Б. Шикин
Институт физики твердого тела РАН, 142432 Черноголовка, Московская обл., Россия
PACS: 75.50.-h
Abstract
Обсуждается механизм пробоя для ВАХ системы целочисленных
холловских каналов в 2D образце с регулярно неоднородным распределением 2D
электронной плотности. Показано, что появление на "берегах" таких полосок
внешнего потенциала V ведет к альтернативе: с ростом V ширина полоски
сжимается вплоть до нуля, либо она растет геометрически, но "портится
качественно". В обоих случаях со своими (разными) порогами целочисленные
полоски теряют свойства, присущие им в режиме квантового эффекта Холла (КЭХ).
Эти пороги ассоциируются в работе с явлением несимметричного пробоя КЭХ для
системы целочисленных каналов.