Холловский пробой в GaAs/AlAs гетероструктуре с модулированным легированием
А. А. Быков, И. В. Марчишин, А. К. Бакаров, Ж. К. Занг*, С. А. Виткалов*2)
Институт физики полупроводников Сибирского отд. РАН, 630090 Новосибирск, Россия
*Physics Department, City College of the City University of New York, New York 10031, USA
PACS: 73.23.-b, 73.40.Gk
Abstract
Экспериментально исследовано влияние величины постоянного
электрического тока Idc на электронный транспорт в GaAs квантовой яме с
AlAs/GaAs сверхрешеточными барьерами при температуре T = 4.2 К в магнитных
полях B до 2 Тл. Обнаружено резкое возрастание сопротивления Rxx в
магнитных полях выше некоторого критического значения Bc. Показано, что
при прочих равных условиях величина Bc тем меньше, чем больше ток
Idc. Обнаруженное явление качественно объясняется электрическим пробоем,
возникающим в сверхрешеточных барьерах под действием холловского поля.