Исследование механизмов ионизации акцепторной примеси алюминия в кремнии
Т. Н. Мамедов, Д. Г. Андрианов*, Д. Герлах, В. Н. Горелкин+, А. В. Стойков, У. Циммерман
Объединенный институт ядерных исследований, 141980 Дубна, Московская обл., Россия *Государственный научно-исследовательский и проектный институт, редкометаллической промышленности "Гиредмет" 109017 Москва, Россия Paul Scherrer Institut, CH-5232 Villigen PSI, Switzerland +Московский физико-технический институт, 141700 Долгопрудный, Московская обл., Россия
PACS: 71.55.Cn, 76.75.+i
Abstract
Исследуются
процессы ионизации мелких акцепторных центров (АЦ) в кремнии.
Примесные атомы μAl в исследуемых образцах
кристаллического кремния с примесью фосфора
(1.6•1013, 2.7•1013 и 2.3•1015 см-3) и
бора (1.3•1015 см-3) создавались путем
имплантации отрицательных мюонов.
Установлено, что как в p-типа кремнии, так и в кремнии n-типа
с концентрацией примеси см-3,
основным механизмом ионизации акцепторной примеси Al при T>45 K
является тепловая ионизация.
Скорость тепловой ионизации АЦ Al в Si изменяется от
до с-1 в интервале температур 45-55 K.
|