ЭПР собственных дефектов в кристаллах TISe
Абуталыбов Г.И., Лихолит И.Л., Мастеров В.Ф., Салаев Э.Ю., Штельмах К.Ф., Агекян В.Ф.
Описан ЭПР нелегированного селенида таллия в интервале температур 3,8 τ 8,2 К и определена температурная зависимость скорости парамагнитной релаксации. Анализ разрешенной суперсверхтонкой структуры и большая величина постоянной сверхтонкой структуры позволяют предложить модель собственного дефекта структуры TISe.