Угловое распределение дифрагированного рентгеновского излучения при (111) каналировании электронов в Si: влияние зонной структуры энергетических уровней
О. В. Богданов, К. Б. Коротченко, Ю. Л. Пивоваров
Томский политехнический университет, 634050 Томск, Россия
PACS: 41.60.-m, 61.85.+p, 78.70.-g
Abstract
Показано, что учет зонной структуры энергетических уровней
каналированных электронов приводит к качественному изменению угловых
распределений рентгеновского
излучения под брэгговскими углами, что может быть полезным при
экспериментальном обнаружении эффекта.