Зарядовая неустойчивость в тонких пленках органических полупроводников
Скалдин О.А., Жеребов А.Ю., Лачинов А.Н., Чувыров А.Н., Делев В.А.
Экспериментально исследована топология электропроводящей структуры, спонтанно возникающей в тонких полимерных пленках. Установлено, что аномально высокая проводимость обусловлена проводящими каналами, расположенными перпендикулярно поверхности. Экспериментально доказана связь этих каналов с зарядовой неустойчивостью в полимерных полупроводниках.