Исследование энергетической щели в сверхпроводниках состава Y - Ва - Сu - О методом ИК отражения
Абель Е.В., Багаев B.C., Басов Д.Н., Ельцев Ю.Ф., Иваненко О.М., Мицен К.В., Омельяновский О.Е., Печень Е.В., Плотников А.Ф., Поярков А.Г.
Предложена методика обработки спектров отражения сверхпроводников для определения ширины энергетической щели и построения ее температурной зависимости. Определенное из эксперимента значение 2А / кТ составило примерно 3,5.