|
VOLUME 86 (2007) | ISSUE 11 |
PAGE 828
|
Температурная чувствительность и шумы ВТСП джозефсоновского детектора на сапфировой бикристаллической подложке при температуре 77 К
М. Тарасов°, Е. Степанцов, А. Калабухов+, М. Куприянов, Д. Винклер+
°Институт радиотехники и электроники РАН, 125009 Москва, Россия Институт кристаллографии РАН, 117333 Москва, Россия Научно-исследовательский институт ядерной физики МГУ, 119899 Москва, Россия +Chalmers University of Technology, Gothenburg SE41296, Sweden
PACS: 74.50.+r, 85.25.Pb
Abstract
В YBa2Cu3O7-x пленках, выращенных на сапфировых
бикристаллических подложках, изготовлены джозефсоновские переходы на основе
искусственных межзеренных границ, образованных разворотом кристаллических
решеток вокруг оси [100]. Пленки наносили методом лазерной абляции поверх
буферного слоя CeO2. Критическая температура пленок достигала 88.5 К при
ширине перехода 1.5 К. Переходы шириной от 2 до 3 мкм были интегрированы в
планарные логопериодические антенны и измерены при температуре 77 К.
Значения характерного напряжения IcRn достигали 570 мкВ. Под действием
внешнего излучения на частоте 113 ГГц на ВАХ наблюдались ступени Шапиро.
Была измерена температурная чувствительность такого детектора, помещенного в
квазиоптический приемный модуль. При модуляции температуры входного
излучения 77 К/300 К на выходе детектора наблюдался отклик более 200 нВ.
Собственные шумы на частоте модуляции составили около 1 нВ/Гц1/2, что
соответствует температурному разрешению на уровне 1 К.
|
|