Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 61-80
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 81-92
      Volume 92
      Volume 91
      Volume 90
      Volume 89
      Volume 88
      Volume 87
      Volume 86
      Volume 85
      Volume 84
      Volume 83
      Volume 82
      Volume 81
Search
VOLUME 87 (2008) | ISSUE 10 | PAGE 664
Экспериментальное определение длины пробега экранированных краевых магнитоплазменных возбуждений в двумерном электронном газе
Abstract
Проведено исследование магнито-осцилляций фотонапряжения, возникающих в двумерной электронной системе с задним затвором при микроволновом облучении. Осцилляции являются следствием интерференции экранированных краевых магнитоплазменных волн (КМП). Путем анализа зависимости амплитуды осцилляций от электронной плотности количественно определяется длина пробега КМП. Исследованы зависимости длины пробега КМП от концентрации двумерных электронов, частоты микроволнового излучения, времени электронной релаксации и величины магнитного поля. Установлено, что полученные зависимости находятся в качественном согласии с существующими теоретическими расчетами.