Home
| VOLUME 88 (2008) | ISSUE 6 | PAGE 404 |
|---|
|
Аномальное рассеяние и каналирование рентгеновского излучения внутри полых микрокапиллярных структур
М. И. Мазурицкий, П. В. Махно
Южный федеральный университет, 344090 Ростов-на-Дону, Россия PACS: 42.50.+h, 61.85.+p, 78.70.Ck, 78.70.Dm, 78.70.En
Abstract
Исследованы рентгеновские Si L2,3 - спектры XANES и спектры отражения, полученные при скользящем падении излучения на стеки каналов микроканальных пластин. В длинноволновой рентгеновской области при аномальном рассеянии в окрестности L-краев поглощения кремния обнаружено каналирование вторичного излучения, спектральный состав которого не изменяется на выходе микроканалов. Поверхностно связанное распространение рентгеновской флуоресценции, возбуждаемой внутри микроканалов, возникает при углах падения, меньших  .
|