Рентгеновская топография кристаллов алмаза в квазизапрещенных отражениях
А. А. Ширяев, Э. Х. Мухамеджанов*, А. Э. Волошин, А. Н. Морковин*, М. М. Борисов*, С. В. Титков+
Институт кристаллографии РАН, 119333 Москва, Россия
*Российский научный центр "Курчатовский институт", 123182 Москва, Россия
+Институт теологии рудных месторождений РАН, 119017 Москва, Россия
PACS: 61.72.Ff, 61.72.Dd, 61.72.Ss
Abstract
Получены рентгеновские топограммы кристаллов
алмаза различной степени совершенства с использованием
квазизапрещенного отражения 222. Показано, что применение таких
отражений для рентгеновской топографии позволяет изучать
распределение дефектов, влияющих на распределение электронной
плотности, по сечению кристаллов.