Home
| VOLUME 90 (2009) | ISSUE 4 | PAGE 297 |
|---|
|
Определение реальной структуры искусственных и природных опалов на основе трехмерных реконструкций обратного пространства
А. А. Елисеев, Д. Ф. Горожанкин, К. С. Напольский, А. В. Петухов+, Н. А. Саполетова, А. В. Васильева*, Н. А. Григорьева∇, А. А. Мистонов∇, Д. В. Белов+, В. Г. Бауман
 , К. О. Квашнина , Д. Ю. Чернышов , А. А. Босак, С. В. Григорьев*Факультет наук о материалах, МГУ им. М.В. Ломоносова, 119991 Москва, Россия +Debye Institute for Nanomaterials, University of Utrecht, 3584 CH Utrecht, The Netherlands *Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова РАН, 188308 Гатчина, Ленинградская обл., Россия ∇Санкт-Петербургский государственный университет, 198504 Санкт-Петербург, Россия Delft University of Technology, 2629 JB Delft, The NetherlandsEuropean Synchrotron Radiation Facility, BP220, F-38043 Grenoble Cedex, France Swiss-Norwegian Beam Lines at the European Synchrotron Radiation Facility, BP220, F-38043 Grenoble Cedex, France
PACS: 61.05.Cf, 61.72.Dd, 64.75.Yz
Abstract
По набору картин малоугловой дифракции рентгеновского излучения восстановлено распределение интенсивности рассеяния в обратном пространстве для природного и искусственного опалов. Полученные трехмерные карты интенсивности использовали для анализа дефектной структуры опалов. Структура синтетических опалов может быть удовлетворительно описана в рамках вероятностной модели Вильсона с преобладанием слоев в ГЦК окружении. Дифракционные картины, наблюдаемые для природного опала, подтверждают наличие неравнозаселенных доменов ГЦК достаточной протяженности. |