Экситоны в двойных квантовых точках Ge/Si
А. И. Якимов, А. А. Блошкин, А. В. Двуреченский
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отд. РАН, 630090 Новосибирск, Россия
PACS: 73.20.Mf, 73.50.Pz
Abstract
Теоретически исследованы пространственная конфигурация
экситонов и сила осциллятора, характеризующая интенсивность
межзонных оптических переходов в двойных вертикально связанных
квантовых точках Ge/Si. Обнаружено, что существуют условия
(размеры квантовых точек, расстояние между точками), при которых
происходит многократное (до 5 раз) увеличение вероятности
экситонного перехода по сравнению со случаем одиночных квантовых
точек. Ожидается, что полученные результаты позволят приблизиться
к решению проблемы создания эффективных светоизлучающих и
фотоприемных устройств на базе непрямозонных полупроводников Si и
Ge.