Измерение спектральной яркости терагерцового излучения в процессе нелинейно-оптического детектирования
Г. Х. Китаева, А. Н. Пенин, А. Н. Тучак+, А. В. Шепелев+, П. В. Якунин
МГУ им. М.В. Ломоносова, Физический факультет, 119991 Москва, Россия
+МГТУ им. А.Н. Косыгина, 119991 Москва, Россия
Abstract
Предложен метод абсолютного измерения спектральной яркости
излучения терагерцового диапазона в процессе параметрического
преобразования в оптический диапазон. Метод характеризуется низким
пороговым потоком, не требует использования эталонов. Одновременно
метод позволяет провести калибровку тепловых флуктуаций поля и
абсолютным образом установить локальную температуру нелинейного
кристалла-преобразователя.