Электронно- дырочная жидкость и экситонные молекулы в квазидвумерных SiGe- слоях гетероструктур Si/SiGe/Si
Т. М. Бурбаев, М. Н. Гордеев, Д. Н. Лобанов*, А. В. Новиков*, М. М. Рзаев, Н. Н. Сибельдин, М. Л. Скориков, В. А. Цветков, Д. В. Шепель
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия
*Институт физики микроструктур РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия
Abstract
В квантово-
размерных SiGe- слоях гетероструктур
Si/Si1-xGex/Si II рода
обнаружена электронно- дырочная жидкость (ЭДЖ), состоящая из
квазидвумерных дырок в квантовой яме в SiGe- слое и
квазитрехмерных электронов, также находящихся в этом слое.
Определены концентрации дырок и электронов в ЭДЖ, равные
см-2 и
см-3, соответственно. Показано, что газовая
фаза состоит из экситонов и экситонных молекул. Установлены
требования к зонным параметрам структуры, при выполнении которых
возможно образование ЭДЖ и биэкситонов.