Home
For authors
Submission status

Archive
Archive (English)
Current
   Volumes 113-119
   Volumes 93-112
      Volume 112
      Volume 111
      Volume 110
      Volume 109
      Volume 108
      Volume 107
      Volume 106
      Volume 105
      Volume 104
      Volume 103
      Volume 102
      Volume 101
      Volume 100
      Volume 99
      Volume 98
      Volume 97
      Volume 96
      Volume 95
      Volume 94
      Volume 93
Search
VOLUME 93 (2011) | ISSUE 2 | PAGE 78
Влияние малых магнитных добавок к восприимчивости на угловые зависимости отражения рентгеновского поляризованного излучения от многослойных структур
Abstract
Метод рентгеновского резонансного отражения поляризованного излучения (XRMS - X-ray resonant magnetic scattering) дает возможность определения оптических констант, включая магнитные поправки, существенные вблизи краев рентгеновского поглощения резонансных атомов, по сдвигу угла Брэгга при отражении от периодических мультислоев. Недавно Valvidares с соавторами [Phys. Rev. B 78, 064406 (2008)] обнаружили существенные различия формы "магнитных" брэгговских максимумов отражения от  [Co73Si27(50 Å)/Si(30 Å)]10 пленки для двух противоположных случаев антиферромагнитного (АФМ) межслойного упорядочения. Авторы предположили, что эти особенности можно объяснить наличием магнитно-резонансной поправки на преломление. Мы показали, что такие поправки в случае АФМ структур не приводят к смещению брэгговского максимума, но форма "магнитных" максимумов объясняется интерференцией магнитной и немагнитной амплитуд отражения.