Трехмерные и двумерные топологические изоляторы в слоистых соединениях Pb2Sb2Te5, Pb2Bi2Te5 и Pb2Bi 2Se5
И. В. Силкин*, Ю. М. Коротеев+*, С. В. Еремеев+*, Г. Бильмайер, Е. В. Чулков
*Томский государственный университет, 634050 Томск, Россия +Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отд. РАН, 634021 Томск, Россия Institut für Festkörperforschung and Institute for Advanced Simulation, Forschungszentrum Jülich, D-52425 Jülich, Germany Donostia International Physics Center, and CFM, Centro Mixto CSIC-UPV/EHU, Departamento de Física de Materiales, UPV/EHU, Apdo. 1072, 20080 San Sebastián, Spain
Abstract
Представлены результаты теоретического исследования
электронной структуры тройных соединений Pb2Sb2Te5,
Pb2Bi2Te5 и Pb2Bi2Se5, имеющих слоистую структуру,
состоящую из девятислойных атомных блоков, разделенных
ван-дер-ваальсовыми промежутками. Показано, что все рассмотренные
соединения являются трехмерными (3D) топологическими изоляторами
(ТИ). Обнаружена возможность существования состояния двумерного (2D)
топологического изолятора в ультратонких пленках (0001)
Pb2Sb2Te5 и Pb2Bi2Te5. В последнем соединении
наблюдаются осцилляции топологического -инварианта с
увеличением толщины пленки.
|