Механизм антигистерезисного поведения сопротивления графена на подложке сегнетоэлектрика Pb(ZrxTi1-x)O3
М. В. Стриха
Институт физики полупроводников им. Лашкарева НАН Украины, 03039 Киев, Украина
Abstract
Предложена численная модель для объяснения антигистерезисного
поведения сопротивления графена на подложке сегнетоэлектрика
Pb(ZrxTi1-x)O3 с изменением напряжения на затворе. Модель
учитывает экранирование электрического поля в подложке электронами,
захваченными на состояния, связанные с интерфейсом графен-сегнетоэлектрик, и
описывает полученные ранее экспериментальные зависимости. Сделанные оценки
могут быть важны при создании элементов энергонезависимой памяти нового
поколения, использующих возникающие в эффекте антигистерезиса два стабильных
значения сопротивления, одному из которых соотносят логический 0, а
другому - 1.