JETP Letters: issues online

Прецизионные измерения в интервале температур 0.5<T<100 K действительной и мнимой частей микроволнового поверхностного импеданса Z_ac(T)=R_ac(T)+iX_ac(T) проводящих ac-слоев кристаллов k-(BEDT-TTF)₂Cu[N(CN)₂]Br демонстрируют ряд особенностей: (i) в сверхпроводящем состоянии при $T\ll T_c\approx11.5$ K близкий к линейному температурный ход глубины проникновения поля Δλ_ac(T)∞Δ X_ac(T); (ii) в нормальном состоянии совпадение кривых R_ac(T)=X_ac(T) при T_c<T<40 K; (iii) при T>40 K возрастание величины X_ac(T) по сравнению с R_ac(T); (iv) при T>40 K немонотонный ход R_ac(T) в тонких кристаллах. Эти особенности импеданса Z_ac(T) с увеличением Т интерпретируются в терминах: (i) d-типа симметрии сверхпроводящего параметра порядка; (ii) нормального скин-эффекта; (iii) проявлений антиферромагнитных флуктуаций; (iv) размерного эффекта. Определены значения электродинамических параметров k-(BEDT-TTF)₂Cu[N(CN)₂]Br.