ВАХ при примесном пробое в полумагнитном полупроводнике p-MnxHg1-xTe
Беляев А.Е., Комиренко С.М., Семенов Ю.Г., Шевченко Н.В.
Предложен механизм образования 5-образной вольт-амперной характеристики, обнаруженной в ρ Mn,Hgx_xTe, связанный с возникновением неравновесного распределения носителей в примесной зоне при ударной ионизации.