JETP Letters: issues online

С помощью масс-спектрометрии резонансного захвата электронов обнаружены и исследованы двухзарядные отрицательные ионы, возникающие при взаимодействии контролируемых по энергии электронов с изолированными молекулами фторпроизводных фуллерена C₆₀F_n (n = 36, 48). Измерена зависимость интенсивности образования двухзарядных отрицательных ионов фторфуллеренов от энергии присоединяемых электронов. Разработана оригинальная методика оценки абсолютного сечения образования двухзарядных отрицательных ионов на основе экспериментально измеримых данных, не требующая привлечения дополнительных калибровочных величин. Для наиболее интенсивно образующихся ионов оценочные значения абсолютного сечения образования составили ${\sim} 1.1\cdot10^{-24}$ м² для C₆₀F^2-₃₆ и ${\sim} 1.5\cdot10^{-24}$ м² для C₆₀F^2-₄₈ при энергиях максимума их эффективного выхода 2.0 и 1.6 эВ соответственно.