Влияние кристаллографической оси на угловое распределение γ-излучения релятивистских электронов в монокристаллах
Андреяшкин М.Ю., Воробьев С.А., Забаев В.Н., Каширин А.П., Науменко Г.А., Потылицын А.П., Тарасов В.М.
Экспериментально исследовано изменение углового распределения 4-излучения электронов с энергией 900 МэВ в монокристаллах Si и алмаза при переходе от хаотической ориентации к осевой. Впервые обнаружено принципиальное различие в поведение жесткой и мягкой компонент спектра.