Инфракрасная спектроскопия Bi2Te2Se
Ю. А. Алещенко+*, А. В. Муратов+, В. В. Павлова+*, Ю. Г. Селиванов+, Е. Г. Чижевский+
+Физический институт им. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия
*Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", 115409 Москва, Россия
Abstract
В спектральном диапазоне 30-10000 см-1 при
температурах 5-300 К исследованы спектры инфракрасного отражения
и пропускания монокристаллов Bi2Te2Se, выращенных
модифицированным методом Бриджмена. Определены ширина запрещенной
зоны и ее температурная зависимость, спектры оптических функций и
концентрации свободных носителей заряда в Bi2Te2Se.