Home
For authors
Submission status

Archive
Archive (English)
Current
   Volumes 113-119
   Volumes 93-112
      Volume 112
      Volume 111
      Volume 110
      Volume 109
      Volume 108
      Volume 107
      Volume 106
      Volume 105
      Volume 104
      Volume 103
      Volume 102
      Volume 101
      Volume 100
      Volume 99
      Volume 98
      Volume 97
      Volume 96
      Volume 95
      Volume 94
      Volume 93
Search
VOLUME 99 (2014) | ISSUE 10 | PAGE 683
Фотоэлектронная сканирующая микроскопия с полым острием
DOI: 10.7868/S0370274X14100087
Abstract
Реализован новый тип микроскопии на основе сканирования в вакууме полым зондом, сквозь который пропущен пучок заряженных частиц. Такой подход позволяет контролируемым образом перемещать пространственно-локализованные пучки ионов, электронов, молекул (атомов) и мягкого рентгеновского излучения, а также проводить исследования поверхности в "классическом" зондовом режиме. В фотоэлектронной моде, когда электроны пропущены сквозь 2-микронный кварцевый капилляр, с субволновым пространственным разрешением визуализирован профиль поверхности гадолиния, облученной 400-нанометровыми фемтосекундными лазерными импульсами. Новый метод микроскопии открывает возможность для исследований в области нанолокальной фотодесорбции молекулярных ионов (одна из последних идей В.С. Летохова).