Визуализация электронных орбиталей в сканирующей туннельной микроскопии
А. Н. Чайка
Институт физики твердого тела РАН, 142432 Черноголовка, Россия
Centre for Research on Adaptive Nanostructures and Nanodevices, School of Physics, Trinity College Dublin, Dublin 2, Ireland
Abstract
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) является одной из основных
методик прямой визуализации электронной структуры поверхности и химического
анализа многокомпонентных поверхностей на атомном уровне. В обзоре
представлены результаты, демонстрирующие роль орбитальной структуры острия и
взаимодействия атомов зонда и поверхности в формировании СТМ-изображений с
пикометровым пространственным разрешением. Показана возможность создания
зондов с известной структурой острия и селективной визуализации отдельных
электронных орбиталей в СТМ-экспериментах с контролируемыми величиной
туннельного промежутка и структурой зонда.