Размерные эффекты в ультратонких магнитных пленках
П. В. Прудников, В. В. Прудников, М. А. Медведева
Омский государственный университет им. Достоевского, 644077 Омск, Россия
Abstract
Методами Монте-Карло проведено численное исследование
размерных эффектов в критических свойствах многослойных
гейзенберговских пленок. Для пленок различной толщины учтено влияние
анизотропии, создаваемой кристаллическим полем подложки.
Рассчитанные значения критических индексов демонстрируют размерный
переход от двумерных к трехмерным свойствам пленок с увеличением
числа слоев. В пленках с толщинами, соответствующими кроссоверной
области, выявлен спин-ориентационный переход в планарную фазу.