Нелокальный и локальный механизмы цезий-индуцированной хемосорбции кислорода на поверхности p-GaAs(Cs,O)
В. В. Бакин, К. В. Торопецкий, Г. Э. Шайблер, А. С. Терехов
Институт физики полупроводников им. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
Abstract
Установлено, что вероятность Cs-индуцированной хемосорбции
молекулярного
кислорода на поверхности p-GaAs(Cs) определяется в основном вероятностью
диссоциации молекулы
во время ее столкновения с поверхностью. При увеличении количества
адсорбированного
кислорода на поверхности p-GaAs(Cs,О) вероятность его хемосорбции
снижается и в
зависимости от величины цезиевого покрытия может либо по-прежнему определяться
вероятностью
диссоциации молекулы, либо ограничиваться вероятностью "захвата" атомов
кислорода
локальными центрами хемосорбции, либо зависеть от этих двух процессов.