Длинноволновый сдвиг края поглощения в растянутых слоях Ge
В. А. Володин+*, Л. В. Соколов
+Институт физики полупроводников им. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
*Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия
Abstract
Тонкие растянутые пленки Ge в многослойных гетероструктурах
InGaAs/Ge/InGaAs,
выращенных молекулярно-лучевой эпитаксией на подложках GaAs (001), исследованы с
применением методов спектроскопии комбинационного рассеяния света и спектроскопии
пропускания света. Растягивающие двуосные деформации в пленках достигали
1.9
растянутых пленках Ge обнаружен сдвиг края поглощения в длинноволновую
область. Оптическая щель уменьшается до эВ.