Топологические дефекты в смектических островах в свободно подвешенных пленках
П. В. Долганов+, Н. С. Шуравин+*, В. К. Долганов+, Е. И. Кац×
+Институт физики твердого тела РАН, 143432 Черноголовка, Россия
*Московский физико-технический институт (государственный университет), 141700 Долгопрудный, Россия
×Институт теоретической физики им. Ландау РАН, 117940 Москва, Россия
Abstract
Изучены текстуры, создаваемые точечными топологическими
дефектами в полярных смектических пленках. Использован
динамический метод создания таких дефектов (вещество из очень тонкой
пленки не успевает уйти на ее края, и контролируемо образуются участки -
острова - большей толщины с топологическим дефектом). Топологические
дефекты исследованы в смектических островах толщиной в 6-8
молекулярных слоев, находящихся в пленке толщиной в два молекулярных
слоя. Конкуренция между двумерной ориентационной упругостью в
островах и ориентацией директора на границе смектических островов
приводит к различным конфигурациям поля с-директора, создаваемого
топологическим дефектом. Переход между конфигурациями происходит
при изменении размера островов и зависит от дипольной поляризации
жидкого кристалла. Сопоставление численных расчетов структуры
топологических дефектов с экспериментальными данными позволило
определить зависимость анизотропии двумерной ориентационной
упругости от поляризации смектических пленок.