Home
| VOLUME 101 (2015) | ISSUE 12 | PAGE 940 |
|---|
|
Фокусировка при рассеянии частиц на поверхности
П. Ю. Бабенко, А. Н. Зиновьев, А. П. Шергин
Физико-технический институт им. Иоффе РАН, 194021 С.-Петербург, Россия
Abstract
Путем компьютерного моделирования показано, что при рассеянии атомов аргона на кристаллических мишенях из алюминия и германия при скользящих углах падения, меньших 4°, коэффициент отражения частиц близок к 1 и наблюдается фокусировка пучка рассеянных частиц (угловые распределения частиц сильно сжаты). Если фокусировка пучка по азимутальному углу известна и ранее изучалась, то острая фокусировка в направлении, перпендикулярном поверхности, при малых углах падения до сих пор не исследовалась. Данный эффект подтверждается экспериментальными результатами. Он связан с многократным рассеянием налетающих частиц на атомной цепочке. Результаты моделирования позволили получить весьма точное значение амплитуды тепловых колебаний атомов на поверхности (  Å для
алюминия), которое хорошо согласуется с экспериментом.
|