Исследование методом ФМР анизотропных свойств эпитаксиальной пленки Fe3Si на вицинальной поверхности Si(111)
Б. А. Беляев+*×, А. В. Изотов+*
+Институт физики им. Киренского СО РАН, 660036 Красноярск, Россия
*Сибирский федеральный университет, 660041 Красноярск, Россия
×Сибирский государственный аэрокосмический университет им. Решетнева, 660014 Красноярск, Россия
Abstract
Методом ферромагнитного резонанса измерены анизотропные характеристики
эпитаксиальной тонкой магнитной пленки силицида железа Fe3Si, выращенной на
вицинальной поверхности кремния Si(111) с углом разориентации 0.14°.
Показано,
что по угловым зависимостям поля ферромагнитного резонанса эпитаксиальной пленки можно
определить одновременно полярный и азимутальный углы разориентации
кристаллографической плоскости подложки. Определены значения эффективной
намагниченности насыщения пленки Meff=1105 Гс и константы кубической
магнитокристаллической анизотропии K4=1.15•105 эрг/см3.
Разориентация плоскости
подложки приводит к образованию ступенек на поверхности пленки и, как следствие, к
возникновению одноосной магнитной анизотропии магнитодипольной природы, константа
которой K2=796 эрг/см3. Обнаружена небольшая однонаправленная магнитная анизотропия
(K1=163 эрг/см3), возникновение которой может быть связано с нарушением симметрии на
ступеньках пленки и обусловлено взаимодействием Дзялошинского-Мория.