Генерация рентгеновского излучения при скользящем взаимодействии 18 МэВ электронов с тонким Si кристаллом в камере бетатрона
М. М. Рычков, В. В. Каплин, К. В. Сухарников, И. К. Васьковский
Национальный исследовательский Томский политехнический университет, 634050 Томск, Россия
Abstract
Представлены результаты исследования генерации
рентгеновского излучения при скользящем взаимодействии 18 МэВ электронов
с Si кристаллом толщиной 50 мкм и длиной 4 мм
вдоль пучка электронов, установленном в гониометре внутри камеры
бетатрона Б-18. Результаты
демонстрируют сильные изменения угловых распределений тормозного
излучения при изменении
ориентации кристалла, что отсутствует
в случае геометрии перпендикулярного падения электронов
на поверхность тонкого кристалла, если нет эффектов каналирования
электронов, которые реализуются при его определенных ориентациях.
Получены изображения эталонной микроструктуры, которые продемонстрировали
высокое разрешение ее деталей за счет малого размера источника
излучения.
Продемонстрировано изменение контраста изображения от положения
микроструктуры в конусе излучения.