Перераспределение материала при фемтосекундной лазерной абляции тонкой серебряной пленки1)
П. А. Даниловa 2), Д. А. Заярныйa, A. A. Ионинa, С. И. Кудряшовa,b,c 2), А. А. Руденкоa, А. А. Кучмижакc,d, О. Б. Витрикc,d, Ю. Н. Кульчинc, В. В. Жаховскийe,f, Н. А. Иногамовe,f 2)
aФизический институт им. П.Н. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия
bНациональный исследовательский ядерный университет МИФИ, 115409 Москва, Россия
cИнститут автоматики и процессов управления ДВО РАН, 690041 Владивосток, Россия
dДальневосточный федеральный университет, 690041 Владивосток, Россия
eВсероссийский НИИ автоматики им. Н.Л. Духова Росатом, 127055 Москва, Россия
fИнститут теоретической физики им. Л.Д. Ландау РАН, 142432 Черноголовка, Россия
Abstract
Метод энергодисперсионной рентгеновской микроспектроскопии впервые
использован для количественного изучения
пространственного перемещения
материала
серебряной пленки толщиной 100 нм
под действием одиночного
фемтосекундного лазерного импульса, сфокусированного в малое пятно на
дифракционном пределе.
Для полученных радиально-симметричных субмикронных структур - микроконуса с
наномасштабным острием различной длины
и сквозного отверстия -
определены распределения массы серебра по радиальным сечениям и
проанализирован баланс вещества.
Исследованы гидродинамические процессы и фазовые переходы,
вызывающие плавление пленки, движение расплава и его рекристаллизацию в
пределах фокального пятна.