Электронные и транспортные свойства гетерофазных соединений на основе MoS2 1)
Д. Г. Квашнин+* 2), Л. А. Чернозатонский+
+Институт биохимической физики им. Н.М. Эмануэля РАН, 119334 Москва, Россия
*Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", 119049 Москва, Россия
Abstract
В данной работе проведено детальное исследование новых
гетерофазных сверхрешеток
на основе MoS2 с помощью теории функционала электронной
плотности. Показано, что
внедрение 1Т-фазы в монослой 2H-MoS2 приводит
к формированию электронных
уровней вблизи энергии Ферми и формированию квантовых ям в поперечном
направлении сверхрешеток. Предложенные гетерофазные латеральные
структуры дихалькогенидов переходных металлов
имеют большие перспективы для конструирования новых элементов
аноэлектроники.