Осцилляционная дифференциальная методика локального приближения для анализа физических процессов в интерфейсе между вихревыми и мейснеровскими областями в сверхпроводниках
Х. Р. Ростами
Фрязинский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки
Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, 141190 Фрязино, Россия
Abstract
Разработана "дифференциальная" методика локальной диагностики
сверхпроводников. На магнитополевых зависимостях плотности захваченного
магнитного потока Btr(H0) и эффективного
размагничивающего фактора neff(H0) массивных и
пленочных YBCO образцов через определенные интервалы внешнего поля
обнаружены регулярные ступеньки одинаковой высоты. Показано, что в
сильных магнитных полях образец скачкообразно "распадается" на
субкристаллиты и нанокристаллиты размером существенно меньше глубины
проникновения магнитного поля λ.