Туннельная интерферометрия и измерение толщины ультратонких металлических пленок Pb(111)1)
С. C. Уставщиков+, А. В. Путилов+, А. Ю. Аладышкин+* 2)
+Институт физики микроструктур РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия
*Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского,
603950 Нижний Новгород, Россия
Abstract
Методами низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии и
спектроскопии изучены спектры дифференциальной туннельной проводимости для
ультратонких пленок свинца, выращенных на монокристаллах кремния
Si(111)7×7, с толщиной от 9 до 50 монослоев свинца. Для таких систем
характерно существование локальных максимумов туннельной проводимости, причем
положение максимумов дифференциальной проводимости определяется спектром
размерно-квантованных состояний электронов в металлическом слое и,
следовательно, локальной толщиной слоя. Показано, что особенности
микроструктуры подложек, такие как ступени моноатомной высоты, дефекты
структуры и инородные включения, покрытые слоем свинца, могут быть
визуализированы методом модуляционной сканирующей туннельной спектроскопии.