Home
| VOLUME 106 (2017) | ISSUE 8 | PAGE 476 |
|---|
|
Туннельная интерферометрия и измерение толщины ультратонких металлических пленок Pb(111)1)
С. C. Уставщиков+, А. В. Путилов+, А. Ю. Аладышкин+* 2)
+Институт физики микроструктур РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия *Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия
Abstract
Методами низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии изучены спектры дифференциальной туннельной проводимости для ультратонких пленок свинца, выращенных на монокристаллах кремния Si(111)7×7, с толщиной от 9 до 50 монослоев свинца. Для таких систем характерно существование локальных максимумов туннельной проводимости, причем положение максимумов дифференциальной проводимости определяется спектром размерно-квантованных состояний электронов в металлическом слое и, следовательно, локальной толщиной слоя. Показано, что особенности микроструктуры подложек, такие как ступени моноатомной высоты, дефекты структуры и инородные включения, покрытые слоем свинца, могут быть визуализированы методом модуляционной сканирующей туннельной спектроскопии. |