Быстрая и ультрабыстрая энергодисперсионная рентгеновская рефлектометрия на основе призменной оптики
А. Г. Турьянский+, C. C. Гижа+*, О. В. Коновалов#
+Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия
*Российский университет дружбы народов, 117198 Москва, Россия
#European Synchrotron Radiation Facility (ESRF), 38000 Гренобль, Франция
Abstract
Впервые получены интерференционные спектры рентгеновского отражения
от тонких пленок путем разложения спектра полихроматического пучка с помощью
алмазной призмы. Измерения пленочных наноструктур и калибровочных спектров
поглощения проводились на синхротроне ESRF. Предложенная спектрометрическая
схема позволяет получать интерференционную картину в широком диапазоне
изменений модуля вектора рассеяния q без углового сканирования. Это
обеспечивает возможность изучения ультрабыстрых процессов в слоистых
наноструктурах при интенсивном внешнем воздействии импульсами лазерного
излучения или заряженных частиц с временным разрешением порядка длительности
рентгеновского импульса.