Скейлинг магнитосопротивления и анизотропия рассеяния носителей заряда в парамагнитной фазе каркасного стекла Ho0.8Lu0.2B12
Н. Е. Случанкоa,b, А. Л. Хорошиловa,b, А. В. Богачa, В. В. Вороновa, В. В. Глушковa,b, С. В. Демишевa,b, В. Н. Краснорусскийa, К. М. Красиковb, Н. Ю. Шицеваловаc, В. Б. Филиповc
aИнститут общей физики им. А.М. Прохорова РАН, 119991 Москва, Россия
bМосковский физико-технический институт (Госуниверситет), 141700 Долгопрудный, Россия
cИнститут проблем материаловедения им. И.Н. Францевича НАНУ, 03680 Киев, Украина
Abstract
При низких температурах 2-10 К исследовано поперечное
магнитосопротивление додекаборида Ho0.8Lu0.2B12 со
структурой каркасного стекла. Показано, что в парамагнитной фазе в
широкой окрестности K в этом антиферромагнетике
доминирующим вкладом является изотропное отрицательное
магнитосопротивление, связанное с рассеянием носителей на наноразмерных
кластерах ионов Но3+, которое масштабируется в координатах
ρ=f(μeff2H2/T2). Обнаружено, что анизотропия
магнитосопротивления выше TN (около 15
обусловлена положительным вкладом, который достигает максимальных
значений для направлений вблизи H| [001]. Предложено объяснение
анизотропии рассеяния носителей заряда в терминах динамического
кооперативного эффекта Яна-Теллера на кластерах В12.