Динамика доменов спонтанного электрического поля в двумерной электронной системе под микроволновым излучением и проводимость донорного слоя
С. И. Дорожкин+ 1), В. Уманский* 2), К. фон Клитцинг× 2), Ю. Х. Смет× 2)
+Институт физики твердого тела РАН, 142432 Черноголовка, Россия
*Department of Physics, Weizmann Institute of Science, 76100 Rehovot, Israel
×Max-Planck-Institut für Festkörperforschung, Heisenbergstrasse 1, D-70569 Stuttgart, Germany
Abstract
На образцах, изготовленных из одной гетероструктуры
GaAs/AlGaAs с двумерной электронной системой, выполнены измерения
температурных зависимостей частоты переключений спонтанного
электрического поля, возникающего под микроволновым излучением и
образующего доменную структуру, и проводимости слоя легирования,
поставляющего электроны в систему. Обнаружено, что обе величины
описываются термоактивационной зависимостью (закон Аррениуса) с
близкими значениями энергии активации. Полученный результат
указывает на связь между этими величинами и подтверждает гипотезу
о том, что наблюдаемая динамика доменной структуры является
следствием динамического экранирования спонтанного электрического поля доменов
зарядами слоя легирования.