Модельно-независимое исследование поверхности кремнезоля методом рентгеновского рассеяния
А. М. Тихонов* 1), В. Е. Асадчиков+, Ю. О. Волков+, Б. С. Рощин+, B. Хонкимаки× 2), М. В. Бланко× 2)
*Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, 119334 Москва, Россия
+Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, 119333 Москва, Россия
×European Synchrotron Radiation Facility, 38000 Grenoble, France
Abstract
Методами рефлектометрии и диффузного рассеяния синхротронного
излучения с энергией фотонов кэВ исследована структура
адсорбционного слоя щелочных ионов на поверхности коллоидных растворов
кремнезема с размером частиц 27 нм. В рамках самосогласованного безмодельного
подхода по экспериментальным данным восстановлены профили электронной
концентрации перпендикулярно поверхности и получены спектры
корреляционной функции высот в плоскости поверхности. Обнаруженное
отклонение интегральных и частотных характеристик спектров шероховатости
поверхности гидрозолей от предсказаний теории капиллярных волн носит
принципиальный характер и обусловлено вкладом шероховатостей с низкими
пространственными частотами ν < 10-4 нм-1, а также
интерференцией диффузного рассеяния от различных межслойных границ
приповерхностной структуры.