Диагностика энерговклада при острой фокусировке фемтосекундного лазерного излучения в объем прозрачного диэлектрика в реальном времени по сигналу третьей гармоники
Е. И. Мареев, Е. А. Мигаль, Ф. В. Потемкин
Физический факультет и Международный учебно-научный лазерный центр МГУ им. М.В. Ломоносова,
119992 Москва, Россия
Abstract
Установлено, что третья гармоника, генерируемая при острой фокусировке
фемтосекундного лазерного импульса ближнего ИК-диапазона (1.24 мкм), служит
индикатором энерговклада в объем прозрачного диэлектрика и может быть
использована в качестве системы обратной связи в процессе
микроструктурирования вещества. Сигнал третьей гармоники чувствителен к
изменению как размера лазерно-индуцированной микроплазмы, так и концентрации
свободных электронов, что позволяет детектировать микроплазму с субмикронными
продольными размерами. Показано, что метод регистрации третьей гармоники
является универсальным и может применяться как в одноимпульсном, так и
двухцветном режимах микроструктурирования.