Исследование энергетической щели в тонких пленках ВТСП
Абель Е.В., Багаев B.C., Басов Д.Н., Головашкин А.И., Красносвободцев С.И., Печень Е.В., Плотников А.Ф., Поярков А.Г.
Методом спектроскопии ИК отражения исследованы тонкие пленки Y(Ho)Ba2Cu30?_x выращенные методом лазерного напыления на подложки из БгТЮз . Обнаружено влияние ориентации кристаллитов в образцах как на характер спектров отражения, так и на температурную зависимость спектров. Для пленок, близких по своим свойствам к монокристаллическим , наблюдается согласие результатов низкотемпературных измерений с соответствующими расчетами по теории Маттиса-Бардина,