Спектроскопия электрон-фононного взаимодействия в микроконтактах с барьерным слоем
Кулик И.О., Москалец М.В., Шехтер Р.И., Янсон И.К.
Показана возможность изучения спектра электрон-фононного взаимодействия в металлических микро контактах с предельно малой длиной неупругой релаксации \f< d при условии, что находящийся в сужении барьерный слой имеет малую прозрачность Z), удовлетворяющую соотношению Dd < I. β. — длина упругого рассеяния электрона в металле, d размер сужения.