Спектроскопическое исследование сверхтонкой структуры уровней примесных ионов Но3+ в синтетическом форстерите
Е. П. Чукалина+, И. О. Тюренков*, Е. В. Жариков×, К. А. Субботин×, М. Н. Попова+
+Институт спектроскопии РАН, 108840 Троицк, Москва, Россия
*Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), 141700 Долгопрудный, Россия
×Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН, 119991 Москва, Россия
Abstract
Впервые обнаружена хорошо разрешенная сверхтонкая структура в оптических
спектрах синтетического форстерита Mg2SiO4, легированного гольмием.
Проведен расчет по теории кристаллического поля для одиночных центров
примесных ионов Ho3+ и димеров в форстерите Mg2SiO4.